MICROGRAFIE AL MICROSCOPIO ELETTRONICO A SCANSIONE AD EMISSIONE DI CAMPO (FE-SEM)
 

Team Leader: Elisabetta Di Bartolomeo

 

Nel microscopio elettronico a scansione (SEM) una “sonda” di elettroni con energia fino a 20 keV viene focalizzata sulla superficie del campione in modo da produrre immagini ingrandite. Diversi fenomeni si verificano sulla superficie sottoposta all’impatto degli elettroni; i più importanti per la microscopia elettronica sono: 1) l’emissione di elettroni secondari con energie di qualche decina di eV, 2) la riemissione o riflessione di elettroni ad alta energia o retrodiffusi appartenenti al raggio primario. Gli elettroni secondari vengono utilizzati per la costruzione di immagini ingrandite fino a 300.000x e risolte fino a 5nm grazie al fatto che a causa della bassa energia di cui sono dotati provengono dagli strati più superficiali del campione. Gli elettroni primari invece servono all’identificazione della presenza di composti ed elementi diversi in un campione eterogeneo essendo l’intensità con cui emergono funzione diretta del numero atomico medio della sostanza investita dal raggio primario.

Il microscopio elettronico a scansione ad emissione di campo (FE-SEM) permette un’analisi morfologica di campioni sia conduttori che non conduttori con e senza metallizzazione. Consente di ottenere immagini ingrandite dei campioni da 500 fino a 300000 ingrandimenti ed identificare in la presenza di composti diversi in campioni eterogenei.

Il FE-SEM è adatto a un impiego aspecifico, non legato a una singola ricerca, ma concretamente interdisciplinare e attrattivo per ricercatori e aziende interessati a caratterizzare e/o fabbricare materiali, siano essi polimerici, nanocompositi, geologici, ceramici, biologici, bioingegneristici, farmaceutici, o anche oggetto di indagini forensi.