AFM

Park Systems NX10

Progettato per fornire misure quantitative altamente accurate della topografia superficiale, grazie a un sistema di scansione ortogonale che separa i movimenti nei piani XY e Z, riducendo significativamente le distorsioni e gli artefatti tipici delle configurazioni AFM convenzionali.

Opera in modalità True Non-Contact™ e consente l’acquisizione di immagini ad altissima risoluzione senza contatto diretto tra punta e campione. L’integrazione di un microscopio ottico coassiale ad alta risoluzione facilita l’individuazione delle aree di interesse e l’esecuzione di analisi localizzate su scala micrometrica e nanometrica.

ph AFM
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