Strumentazione

FE-SEM

Microscopio elettronico a scansione a emissione di campo per l’analisi morfologica e microstrutturale di materiali e dispositive.

AFM

Microscopia a forza atomica per la caratterizzazione tridimensionale e quantitativa delle superfici.

RAMAN

Spettroscopia Raman ad alta sensibilità per la caratterizzazione chimica e strutturale dei materiali