{"id":15603,"date":"2026-07-29T13:33:45","date_gmt":"2026-07-29T11:33:45","guid":{"rendered":"https:\/\/stc.uniroma2.it\/?page_id=15603"},"modified":"2026-09-01T12:29:49","modified_gmt":"2026-09-01T10:29:49","slug":"afm","status":"publish","type":"page","link":"https:\/\/stc.uniroma2.it\/?page_id=15603","title":{"rendered":"AFM"},"content":{"rendered":"\n<p><strong>Park Systems NX10<\/strong><\/p>\n\n\n\n<p>Progettato per fornire misure quantitative altamente accurate della topografia superficiale, grazie a un sistema di scansione ortogonale che separa i movimenti nei piani XY e Z, riducendo significativamente le distorsioni e gli artefatti tipici delle configurazioni AFM convenzionali.<\/p>\n\n\n\n<p>Opera in modalit\u00e0 True Non-Contact\u2122 e consente l&#8217;acquisizione di immagini ad altissima risoluzione senza contatto diretto tra punta e campione. L&#8217;integrazione di un microscopio ottico coassiale ad alta risoluzione facilita l&#8217;individuazione delle aree di interesse e l&#8217;esecuzione di analisi localizzate su scala micrometrica e nanometrica.<\/p>\n\n\n\n<div class=\"wp-block-uagb-container uagb-block-7f165636 alignfull uagb-is-root-container\"><div class=\"uagb-container-inner-blocks-wrap\">\n<div class=\"wp-block-uagb-container uagb-block-7d9182a1\">\n<figure class=\"wp-block-image size-full is-resized\"><a href=\"https:\/\/stc.uniroma2.it\/wp-content\/uploads\/2026\/09\/ph_afm_1.jpg\" data-rel=\"lightbox-image-0\" data-rl_title=\"\" data-rl_caption=\"\" title=\"\"><img loading=\"lazy\" decoding=\"async\" width=\"800\" height=\"600\" src=\"https:\/\/stc.uniroma2.it\/wp-content\/uploads\/2026\/09\/ph_afm_1.jpg\" alt=\"ph AFM\" class=\"wp-image-15635\" style=\"width:400px\" srcset=\"https:\/\/stc.uniroma2.it\/wp-content\/uploads\/2026\/09\/ph_afm_1.jpg 800w, 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